Ceyear 5233D  误码测试仪

产品简介

Ceyear 5233D误码测试仪主要用于数字光收发模块的误码性能测试。采用可更换接口板设计，可支持多种数字光收发模块，包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。Ceyear 5233D误码测试仪采用标准2U机架式结构，支持RS232和以太网远程控制，具有比特误码测试、误码率眼图、电压拉偏、预加重控制、幅度控制、温度与功耗监测及DDM监视功能。端口速率覆盖100Mbps～400Gbps，适合于各种数字光收发模块的研制和生产测试。

功能特点

❙支持SFP28、QSFP28等15种数字光收发模块

❙一台机箱可配置1～4个测试模块，每个模块支持2、4或8个端口

❙支持100G OTN、40GE、100GE二层协议

❙自动识别载板和光模块种类并进行控制

❙按端口和通道进行误码测试

❙为光模块提供电源，并可以进行电压拉偏控制

❙光模块工作电压、电流与功耗测试

❙具有DDM监视功能，通过I2C或MDIO接口对光模块进行控制和状态读取

❙具有眼图扫描功能

❙光模块工作环境温度监测

❙命令式远程控制，适合定制自动化测试

比特误码测试与眼图分析

支持比特误码和眼图分析功能，支持2⁷-1、2⁹-1、2¹¹-1、2¹⁵-1、2²⁰-1、2²³-1、2³¹-1等PRBS图形；支持非帧与成帧两种数据类型。

光模块控制及系统信息

可对载板中插入的光模块单独操作，包括上电、掉电、发光、复位等，可显示系统信息及光模块类型。

光模块信息查看

具有全面的信息查询功能，支持告警信息、光模块寄存器信息、DDM监控信息查看。

典型应用

Ceyear 5233D误码测试仪主要用于数字光收发模块的误码性能测试，光模块插入对应的接口板上，可支持多种数字光收发模块，包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。