R&S®FSPN 相位噪声分析仪 和 VCO测试仪
非凡的灵敏度满足高速度要求
提高实验室和生产中相位噪声测量的效率和可重复性
R&S®FSPN 相位噪声分析仪和VCO测试仪旨在提供出色的灵敏度和测量速度,以便生产和设计工程师测量合成器、压控振荡器、恒温晶体振荡器和介质振荡器等信号源的特性。这款仪器非常适用于在严苛的开发和生产应用中进行相位噪声和VCO分析。
仪器配备两个低相位噪声合成器和实时互相关引擎以提高测量灵敏度,只需少量的互相关即可在生产中测量高质量振荡器、合成器或压控振荡器。增加互相关数量,能够在研发中测量极为灵敏的商用合成器和振荡器的特性。
主要特点
❙优异的相位噪声分析仪和VCO测试仪采用基于硬件实现的实时互相关技术,测量速度一流
❙基本单元采用双合成器和互相关技术,支持非常灵敏的相位噪声测量,1GHz载波频率、10kHz偏移条件下相位噪声典型值为-163dBc (1Hz)
❙频率范围1MHz至26.5GHz
❙噪声极低的内部直流源,便于自动进行VCO特性测量
❙同时测量相位噪声和幅度噪声
型号
型号 | 频率范围 | 相位噪声 |
R&S®FSPN8 相位噪声分析仪 和 VCO 测试仪 | 1MHz~8GHz | < -163dBc (1Hz)(f = 1GHz,10kHz 偏移) |
R&S®FSPN26 相位噪声分析仪 和 VCO 测试仪 | 1MHz~26.5GHz | < -163dBc (1Hz)(f = 1GHz,10kHz 偏移) |
特性和优点
测量速度达到极限 ——
加快开发设备
仪器能够快速提供测量结果,便于更快开发和优化信号源。只需数秒,R&S®FSPN即可显示恒温晶体振荡器(OCXO)或介质振荡器 (DRO)等高端信号源的相位噪声迹线。
非常灵敏的相位噪声测量 ——
实时互相关可提高相位噪声灵敏度
R&S®FSPN基本单元提供互相关功能,能够测量相位噪声极低(甚至低于仪器内部高端信号源的相位噪声)的信号源。此功能可以改进灵敏度,预期效果如下所示:
ΔL = 5 · log(n),其中
❙ΔL:提高的相位噪声灵敏度(单位:dB),
❙n:互相关的数量
利用R&S®FSPN,只需少量的互相关即可测量优质振荡器。测量时间得以缩短,这在生产应用中非常重要。例如,互相关数量增至十倍,R&S®FSPN的固有相位噪声将降低 5dB。
极为快速的 VCO 特性测量 ——
R&S®FSPN采用噪声极低的内部直流源,能够测量压控振荡器(VCO)在各种调谐电压和电源电压下的相位噪声。仪器能够快速测量各种调谐电压或电源电压下的VCO特性。分析仪能够即时输出以下参数:
❙频率与电压
❙调谐斜率与电压
❙输出功率与电压
❙电流损耗与电压
❙输出功率与频率
瞬态响应分析 ——
最高8GHz 宽带分析,支持时域中的频率和相位测量
R&S®FSPN具有8GHz 带宽,能够详细测量合成器特性、跳频后稳定时间、斜波和开关时间等。对于窄带特性测量,R&S®FSPN可提供低至40MHz 的窄带分析功能,以便详细分析锁相环的瞬态响应等。
显示屏可为所有迹线提供余辉模式,便于轻松估计参数离散度或是否存在任何异常值。