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矢量网络分析仪 Ceyear 3672x系列

产品名称: 矢量网络分析仪 Ceyear 3672x系列
产品型号: Ceyear 3672x系列
产品品牌: Ceyear
产品特色:

提供频响、单端口、响应隔离、增强型响应、全双端口、电校准等多种校准方式,内设对数幅度、线性幅度、驻波、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式,还可通过配置选件进行混频器/变频器、增益压缩二维扫描以及脉冲状态下S参数的多功能综合参数测试,能精确测量微波网络的幅频特性、相频特性和群时延特性。

产品概述详细说明附件/软件相关视频用户手册相关应用

Ceyear 3672x系列 67GHz 矢量网络分析仪

产品综述

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪产品包括:

Ceyear 3672A10MHz13.5GHz

Ceyear 3672B10MHz26.5GHz

Ceyear 3672C10MHz43.5GHz

Ceyear 3672D10MHz50GHz

Ceyear 3672E10MHz67GHz

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪提供频响、单端口、响应隔离、增强型响应、全双端口、电校准等多种校准方式,内设对数幅度、线性幅度、驻波、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式,外配USBLANGPIBVGA等多种标准接口,除具有传统矢量网络分析仪的全部测量功能外,还可以通过配置功能选件进行混频器/变频器、增益压缩二维扫描以及脉冲状态下S参数的多功能综合参数测试,能精确测量微波网络的幅频特性、相频特性和群时延特性。该产品可广泛应用于发射/接收(T/R)模块测量、介质材料特性测量、微波脉冲特性测量和光电特性测量等领域,是雷达、通信、导航等系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。

功能特点

校准类型灵活可选,兼容多种校准件

支持多窗口、多通道测量,快速执行复杂测试方案

具有对数幅度、线性幅度、驻波、Smith圆图等多种显示格式

具有USBGPIBLANVGA接口

/英文操作界面,12.1英寸1280x800高分辨率多点触控显示屏

录制/运行,一键式操作简化测量设置步骤,提高工作效率

具有一体化脉冲S参数测量、时域测量、混频器测量、增益压缩二维扫描测量、支持THz扩频、天线与RCS测量接收等功能

人性化用户界面简洁直观,便于操作,可提高测试效率

校准类型灵活可选,兼容多种校准件

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪提供向导校准(自动化校准)、非向导校准(使用机械校准件进行直通响应校准、直通响应与隔离校准、单端口校准、增强型响应校准、全双端口SOLT校准、TRL校准)、电校准(ECal)等多种校准类型,可根据实际测试需要选择同轴3.5mm校准件以及电子校准件等多种校准件,方便不同接口类型器件的测试。

多窗口显示所有测量通道

本产品具有多通道和多窗口显示功能,最多支持64个通道,最多可同时显示16个测量窗口,每个窗口最多可同时显示8条测试轨迹,使观测结果更加直观,用户使用更加方便。

录制功能实现一键自动化测试

记录用户在使用仪器过程中所有操作步骤,同时可以随时插入用户编辑的提示对话框,并且准时弹出提示对话框,等待用户确认,实现用户交互功能,真正实现了智能仪器一键自动化功能。

大动态范围

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪采用混频接收的设计理念,有效扩展整机的测试动态范围,可以满足您对大动态范围的测试需求。

外设接口丰富,灵活实用

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪采用兼容PC的嵌入式计算机模块和Windows操作系统组成的软硬件平台,实现了测试仪器和个人计算机的完美结合。用户可以利用丰富的I/O接口(包括GPIBUSBLAN等)完成数据通讯的测试。

迹线噪声小,测量精度高

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪优异的迹线噪声指标极大地提高了整机的测试精度,可满足用户精确测量的需要,特别有助于小插损器件的精确测量。(下图以Ceyear 3672B为例)

时域分析

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪可通过配置时域测量选件实现测量结果频域和时域之间的切换,用以确定器件、夹具或者电缆中的不连续点位置,实现故障点精确定位。

高级时域分析(TDR选件)

随着信息产业的高速发展,对网络带宽的需求也越来越高,需要信息设备(如大型服务器、计算机和交换机等)能够承载的数据速率越来越快。信息设备生产商对高速互连通道中的信号完整性问题也愈发重视,传输链路的特性变化会显著的影响信号传输质量,高级时域分析选件是评价高速链路信号传输质量的重要手段。

TDR时域阻抗测试,可以精准测试传输线上阻抗特性的变化情况,定位不连续性。

便捷的近端与远端串扰测试,可同时分析时域和频域数据,用于测试多条传输线之间的相互影响的程度。

高级时域分析选件提供基于S参数的虚拟眼图生成及分析功能。仿真码型输出单元用于产生01变化的数据位,把仿真码型和被测件的时域冲激响应进行卷积,叠加后得到虚拟眼图。

根据不同的高速数字通信标准,高级时域分析选件可以使用预先定义好的眼图模板进行高效率Pass/Fail测试。

高级时域分析选件可以在仿真眼图上施加抖动、噪声等干扰,通过预加重和均衡等校正算法的加入,模拟真实环境下高速链路不同位置的仿真眼图。

自动夹具移除功能,实现非标准接头器件测试

矢量网络分析仪的测量对象涉及到非标准接头器件,如封装微波器件、在片器件等。此类器件最显著的特点是无法与矢量网络分析仪直接相连。使用夹具可以将被测件连接到矢量网络分析仪上,但同时也引入了夹具误差。自动夹具移除功能可以进行夹具参数的提取、存储以及夹具去嵌入,以获得被测件的真实参数,其操作简便,精度高。

进行夹具的描述时,可以设置单端夹具及差分夹具,也可以选择夹具的端口数等信息。进行夹具参数的提取,需要对夹具标准进行测量。在标准描述界面,夹具标准包含三种类型:直通标准、开路标准、短路标准。

利用自动夹具移除功能,把被测件作为一个整体,进行平衡参数提取,并进行四端口的去嵌入。测试结果显示,传输参数能够很好的去除掉,同样近端串扰和远端串扰也得到有效去除。

典型应用

增益压缩二维扫描,提高测试效率

放大器等有源器件的增益压缩测量应用(S86选件)仅需一次设置,一次连接,一次校准就可以得到放大器在频域的所有增益压缩参数(包括压缩点的输入功率,压缩点的输出功率,压缩点的增益等)和线性参数(包括线性增益,输入匹配,输出匹配等)。具有:

·快速准确的智能扫描;

·一目了然的向导校准;

·方便快捷的USB电子校准,USB功率校准;

·二维扫描(频率点扫功率和功率点扫频率)一次完成;

·多种压缩方法——从线性/最大增益压缩、从饱和态压缩、回退法和X/Y法。

混频器/变频器测试

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪四端口测量功能选件(400S82S83S84选件)具有内置双源,可以完成混频器/变频器标量和矢量参数测试。

1)混频器/变频器标量参数测量

混频器/变频器标量测量应用选件(S82选件)可以得到频域的所有标量参数(包括输入/输出端口匹配、变频增益、输入/输出端功率等)。相比以往测试方法其优势在于:

·一次连接设置,多参数测试一次性完成;

·人性化简易的校准界面;

·方便快捷的USB电子校准,USB功率校准;

·内置双激励源,无需额外信号源提供本振信号;

·基于端口匹配的功率校准技术;

·为用户解决高准确度的混频器标量参数测试需求。

2)混频器/变频器矢量参数测量

矢量混频/变频器件测试应用选件(S83选件)集变频器件的变频损耗或增益、端口输入/输出功率(正向及反向)、驻波、相位及群时延等参数测量于一体的测试应用软件。其主要特点包括:

·测量过程需使用一个参考混频器进行表征;

·内置双激励源,无需额外信号源提供本振信号;

·测试参数全面,相比于标量混频器测试增加了相位及群时延等参数的测试功能。

滤波器测试

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪具有滤波器测试菜单,可以得到滤波器在频域的所有通带指标(包括带宽,中心频点频率、Q值,左截止频率、右截止频率等)和阻带指标(包括动态范围,隔离度等)。具有:

·快速准确的分段扫描;

·一目了然的校准向导;

·快捷的高精度电子校准技术;

·通带和阻带指标一次测量完成。

一体化脉冲S参数测试

Ceyear 3672系列矢量网络分析仪具有脉冲调制信号输出,可以完成脉冲状态下S参数测试。具有:

·内置四通道脉冲发生器和脉冲调制器,端口13可输出脉冲调制信号;

·完整的脉冲解决方案,可在宽带模式和窄带模式下进行脉冲内定点、脉冲包络和扫频脉冲测量;

·可与外部脉冲发生器和脉冲调制器同步,实现复杂脉冲同步测试。

自动化测试

通过GPIB总线接口、网口提供灵活多样的控制方式,只需完成设备的互联,发送命令即可。为您提供一体化自动测试方案,包括自动校准、自动测量、自动读取、自动打印等。具有:

·简单的控制方式,一根网线、一个GPIB卡;

·有效的降低成本,解放有限的人力资源;

·在有效的时间内完成更多的测试,大大缩短开发周期;

·完成人工不可能完成的任务,如精确时间控制,复杂环境下的测试等。

噪声系数和噪声参数测试

Ceyear 3672x系列矢量网络分析仪噪声系数选件(003选件),结合矢量误差修正和独特的源端调配校准方法,提供高精度的噪声系数和噪声参数测量功能。

噪声系数测量选件(003选件)可以得到被测件的噪声系数、噪声参数、噪声功率参数和噪声相关矩阵,相比以往测试方法其优势在于:

· 一次连接设置,噪声系数、噪声参数和S参数等多种参数测试一次性完成;

·较小噪声系数的精确测量;

·测量范围大(0dB55dB);

·可用于芯片在片噪声系数的精确测量;

·可用于夹具、测试系统等场景下噪声系数的精确测量。

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